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电流的准确测量对测试结果至关重要,但想要准确测量电流就需要选用合适的电流探头与正确的测试方法。本文跟您说说电流测量那些事儿,并带您了解ZLG致远电子的测试方案。在日常的计量测试工作中,电流是一个相当重要的测量值。和使用采样电阻产生压降的方式测量电流相比,电流探头只需把导线完全绕在探头磁芯上就可以实现电流测试。这种方式不需要断电源来连接,可以在不破坏导线的情况下测量流经导线的电流,使用十分便捷。此外,电流探头与电压探头配合使用能够测试功率、相位等数据,这对于电气设计来说是非常有意义的。
一般来说,时钟频率跑的越快,则CPU每秒所能完成的运算次数就越多,性能自然更好,随着时钟频率的增加,CPU就会变得越来越热,这是CPU内部CMOS管耗散功率加大的体现,过高的温度会影响系统的运行,所以有必要采取措施来“监控”CPU的温度,把它限制在一定温度范围内,以确保CPU的可靠运行。由于二极管工艺的特殊性,我们可以利用二极管的伏安特性来测量CPU的温度,它的伏安特性如下图:众所周知,将PN结用外壳封装起来,并加上电极引线就构成了半导体二极管,简称为二极管。
因此我们常常把样品放在高电压、大电流、高湿度、高温、较大气压等条件下进行测试,然后根据样品的失效机理和模型来推算产品在正常条件下的寿命。可靠性是对产品耐久力的测量,我们主要典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线来表示。冷热冲击试验用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度,适用电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷,在有些情况下也可用于环境应力筛选,剔除产品的早期故障。
PCB又被称为印刷电路板(PrintedCircuitBoard),它可以实现电子元器件间的线路连接和功能实现,也是电源电路设计中重要的组成部分。今天就将以本文来介绍PCB板布局布线的基本规则。元件布局基本规则1.按电路模块进行布局,实现同一功能的相关电路称为一个模块,电路模块中的元件应采用就近集中原则,同时数字电路和模拟电路分;2.孔、标准孔等非孔周围1.27mm内不得贴装元、器件,螺钉等孔周围3.5mm(对于M2.5)、4mm(对于M3)内不得贴装元器件;3.卧装电阻、电感(插件)、电解电容等元件的下方避免布过孔,以免波峰焊后过孔与元件壳体短路;4.元器件的外侧距板边的距离为5mm;5.贴装元件焊盘的外侧与相邻插装元件的外侧距离大于2mm;6.金属壳体元器件和金属件(屏蔽盒等)不能与其它元器件相碰,不能紧贴印制线、焊盘,其间距应大于2mm。
红色区域显示测量状态位置。蓝色轨迹显示状态之间的转换路径。相关的X-Y图是星座图。稍微深入细节,星座和状态转换图之间的区别是:星座图具体显示了恢复的符号时钟时间(红点)处的信号位置。状态转换图显示了这些点以及轨迹(信号从一个符号到下一个符号的遵循路径)。理想情况下,测量的状态位置应处于参考状态之下。它们的位置与理想位置不同的程度可通过错误矢量幅度(EVM)参数来测量,该参数也显示在设置对话框的左上方。
20世纪90年代的大部分时间,笔者都是在美国的硅谷度过的,当时的美国及许多 的电子商店都充斥着日本产品。所谓的小巧、轻薄——“轻薄短小”是日本产品的压倒性的优势和特点。现在 以后的等距今20-30年前的具有历史性(Historical)意义的产品,并进行定期。并不是为了与今天的产品进行对比,而是为了汇总当时机械地(Mechanical)组合的产品如何被今天的电子产品所取代的。
望远镜配置包含了八个子望远镜阵列和光束组合望远镜位于阵列的,用来采集来自子望远镜的光线,并且可以在聚焦平面上产生干涉图像。光学延迟线可以均衡来自每个子望远镜不同波前进入路径的差别, 到达覆盖在上面的聚焦平面。干涉边缘图案样式在聚焦平面上形成,并且具有良好的可见度,在干涉仪臂之间的光学路径差(OPD)被保持在比相干长度小的范围之内。随着OPD的增加,边缘图案变得越来越黯淡,即其可见度越来越低。这是因为干涉仪并非工作在单一的波长上,而是工作在有限的频带上。